471-TT     ウェハパラレル テストシステム

新製品の471-TTは長年蓄積してきた測定技術を活用することにより、ウェハ測定工程における複数チップ同時測定を実現した新しいコンセプトのDCテスタです。当社の強みである高電圧?大電流測定技術も継承しており、複数チップを同時測定処理することにより従来テスタに比べ大幅な生産性の向上を図ることができます。
 


 
特徴
?複数チップ同時測定(8パラレル/16パラレル)による
 コストパフォーマンスの向上
?LANを採用することで、データ通信時間の大幅短縮
 を実現
?リレー切換の高速化により、測定時間の短縮を実現
?当社の測定技術を生かし、パラレル測定においても
 安定した測定を実現 (Max 2kV/20A)
?電圧/電流制限設定が可能なため、プローブピンへ
 の負荷を軽減することができます
?あらかじめ設定された印加可能最大電流値(プロー
 バチャックの電流容量値)以下となるように、同時
 に測定するチップ数を自動で分割設定
 

 Item
  Specifications
Applicable Devices
Tr, FET, IGBT, Diode etc.
Polarity
NPN / PNP, N/P Channel
Voltage
2kV
Current
20A
Parallel Test  471-TT/S
                    471-TT/D
8
16 (Photo)
Test Stations
1 Station
Test Item
500
Sort Item
250
Resolution (Bias)
3 digits
Resolution (Measure)
4 digits
 
Copyright © TESEC Corporation. All Rights Reserved.
亚洲熟女/日本黄区免费/泷泽秀明/青娱乐在线